詳細(xì)摘要： 「導(dǎo)通電阻測試系統(tǒng)」（以下簡稱「IRE」）是對焊點的電阻?連接部件的接觸電阻等的導(dǎo)通電阻，進(jìn)行快速、高精度、多通道測試的系統(tǒng)
產(chǎn)品型號：所在地：上海更新時間：2024-09-03 在線留言上海睿威信息科技有限公司
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詳細(xì)摘要： 「導(dǎo)通電阻測試系統(tǒng)」（以下簡稱「IRE」）是對焊點的電阻?連接部件的接觸電阻等的導(dǎo)通電阻，進(jìn)行快速、高精度、多通道測試的系統(tǒng)
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詳細(xì)摘要： 概要：本文為電容壽命試驗系統(tǒng)「CLT-1000」1kV/20mA規(guī)格書
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詳細(xì)摘要： 概要：本裝置是在溫度環(huán)境下，設(shè)定加載電壓，對多通道漏電流進(jìn)行高速測量的裝置
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詳細(xì)摘要： ●測試：靜電容量（C）、介質(zhì)損耗Tan（D）、容抗（｜Z｜）、溫度（T）等
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詳細(xì)摘要： 用于半導(dǎo)體可靠性測試的試驗機(jī)SIC（碳化硅）大功率裝置2000V高壓對應(yīng)電壓 ~2000V電流 ~75mA/單元搭載A/ｍA兩個量程的限流電流切換可進(jìn)行大功率裝...
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詳細(xì)摘要： 特點可對有防水性質(zhì)（防水性）的表面玻璃、電路板、薄膜、外壁等防水性進(jìn)行測定
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詳細(xì)摘要： 概要：電容器的壽命、故障率受所使用溫度和所加載電壓的影響，這些是對介質(zhì)的負(fù)載系數(shù)，統(tǒng)稱為加速系數(shù)
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